原理

1.*測量范圍米氏透射基礎(chǔ)理論HL系列激光粒度分布采用*測量范圍米氏透射基礎(chǔ)理論，充分考慮了助懸劑和待測顆粒的折光率，融合**的檢測裝置，依據(jù)大小不一的顆粒在各個(gè)角度上漫射光高的轉(zhuǎn)變來反表演顆粒群的粒度分布大小粒度分析規(guī)律性;

2.HL系列激光粒度分析儀采用**的過來人線性擬合逆變技術(shù)方式、頻帶變大技術(shù)性，數(shù)據(jù)處理方法后可以獲得更加真實(shí)的分布特征，針對高等院校、研究室等科學(xué)合理科研型顧客具備至關(guān)重要的實(shí)際意義;

3.HL納米技術(shù)激光粒度分析儀采用企業(yè)****CR-128數(shù)據(jù)相關(guān)器。*內(nèi)激光粒度儀公司，所有采用是指“靜態(tài)數(shù)據(jù)光散射基礎(chǔ)理論"，此理論測試的高效低限只有做到50納米技術(shù)，針對較小的顆粒則束手無策。納米技術(shù)顆粒檢測務(wù)必采用“動(dòng)態(tài)光散射"技術(shù)性，而實(shí)現(xiàn)此科技的關(guān)鍵構(gòu)件--相關(guān)器一直由海外壟斷性，HL納米激光粒度分析儀先打破了此項(xiàng)技術(shù)的**壟斷，為*內(nèi)填了技術(shù)空白，可測試0.3-3600um大小的顆粒。

激光粒度儀是基于光衍射現(xiàn)象設(shè)計(jì)的，當(dāng)光通過顆粒時(shí)產(chǎn)生衍射現(xiàn)象（其本質(zhì)是電磁波和物質(zhì)的相互作用）。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。

不同大小的顆粒在通過激光光束時(shí)其衍射光會落在不同的位置，位置信息反映顆粒大小；同樣大的顆粒通過激光光束時(shí)其衍射光會落在相同的位置。衍射光強(qiáng)度的信息反映出樣品中相同大小的顆粒所占的百分比多少。

激光衍射法就是采用一系列的光敏檢測器來測量位置粒徑的顆粒在不同角度上的衍射光的強(qiáng)度，使用衍射模型，通過數(shù)學(xué)反演，然后得到樣品的粒度分布。

通過該位置檢測器接收到的衍射光強(qiáng)度，得到所對應(yīng)顆粒粒徑的百分比含量。

顆粒衍射光的強(qiáng)度對角度的依賴性是隨著顆粒粒徑的變小而降低，當(dāng)顆粒小到幾百納米時(shí)，其衍射光強(qiáng)對于角度幾乎失去依賴性，即此時(shí)的衍射光會分布在很寬的角度范圍內(nèi)，而且單位面積上的光強(qiáng)很弱，這增加了檢測的難度。